Der Wafer-Test ist eine Funktionsprüfung im Fertigungsablauf bei der Produktion von integrierten Schaltungen. Er wird an dem noch nicht zerteilten Wafer durchgeführt, um fehlerhafte Schaltungen frühzeitig zu erkennen. Dafür wird der Wafer in ein Testgerät, dem Wafer-Prober, eingelegt, in dem Kontaktnadeln eine Verbindung zu den Test-Pads der ...