Ein Single Event Upset (SEU) ist ein Soft Error (deutsch „weicher“ Fehler), der in Halbleiterbauelementen beim Durchgang hochenergetischer ionisierender Teilchen (z. B. Schwerionen, Protonen) hervorgerufen werden kann. Er äußert sich beispielsweise als bitflip (Änderung des Zustandes eines Bits) in Speicherbausteinen oder Registern, was zu ...
(SEU) Unbeabschtigtes Umschalten bei Einzelereignis, Ungewolltes Umschalten bei Einzelereignis.
(SEU) Unbeabschtigtes Umschalten bei Einzelereignis, Ungewolltes Umschalten bei Einzelereignis.