Bei der Sekundärelektronenmikroskopie (SEM) handelt es sich um die Standardbetriebsart des Rasterelektronenmikroskops (REM, {enS|scanning electron microscope}). == Verwechselungsgefahr der Abkürzung mit anderen Verfahren == SEM und STEM dürfen nicht mit Rastertunnelmikroskopie (RTM, engl. scanning tunneling microscopy, STM) verwechselt werden, ...