Das Rasterkraftmikroskop, seltener (um Verwechslungen mit dem meistens im physikalischen Sinn falsch verwendeten Begriff Atomkraft zu vermeiden) Atomkraftmikroskop (engl. atomic/scanning force microscope; Abkürzungen AFM bzw. SFM, seltener RKM), ist ein spezielles Rastersondenmikroskop. Es ist ein wichtiges Werkzeug in der Oberflächenchemie und ...
Gefunden auf
https://de.wikipedia.org/wiki/Rasterkraftmikroskop
Das Rasterkraftmikroskop beruht auf der lokalen Messung von Kräfte, die im Bereich von Nanonewton und darunter liegen. Diese Kräfte sind vergleichbar mit denen, die zwischen Atomen wirken, die in einem Festkörper angeordnet sind. Hieraus ergibt sich auch der Name Atomic Force Microsco...
Gefunden auf
https://www.enzyklo.de/Lokal/42087
Rasterkraftmikroskop (Grafiken) Rasterkraftmikroskop, Abkürzung AFM , Weiterentwicklung des Rastertunnelmikroskops, mit dem die Oberflächen leitender und nicht leitender Proben mit atomarer Auflösung gemessen werden. Dabei wird eine feine Sondenspitze, die sich an der Unterseite eines Cantilevers (m...
Gefunden auf
https://www.enzyklo.de/Lokal/42134
Keine exakte Übereinkunft gefunden.
