Die Chemische Kraftmikroskopie (engl. Chemical Force Microscopy; Abkürzung CFM) ist eine Abwandlung des 1986 von Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber entwickelten Rasterkraftmikroskops (Atomic Force Microscope, AFM) zur mechanischen und chemisch sensitiven Abbildung von Oberflächen auf Nanometerskala. Dazu wird, anstelle einer klassisc...